它還采用*的焦距距離計算辦法(DCM)， 操作員現(xiàn)在可以隨時改變焦距測量， 對一些形狀復(fù)雜的工件尤其方便。

FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進行金屬物料分析。